品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
一.多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品概述
波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計(jì)平臺(tái)組成,配合集成了相關(guān)算法的上位機(jī)軟件,可以快速完成光器件不同波長(zhǎng)下的 IL(插入損耗)、PDL(偏振相關(guān)損耗)、ILavg(平均插入損耗)測(cè)試。該系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于密集波分復(fù)用模塊(DWDM)、波長(zhǎng)選擇開關(guān)(WSS)和集成光芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和測(cè)試。
二.多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)
體積小、集成度高,系統(tǒng)只需兩臺(tái)儀器便可完成所有測(cè)量
精度高,速度快?
分辨率:0.1pm?
IL 重復(fù)性:±0.02dB?
PDL 重復(fù)性:±0.01dB?
IL 測(cè)量時(shí)間:≤3s(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)?
PDL 測(cè)量時(shí)間:≤12s(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)
擴(kuò)展性高,機(jī)框支持級(jí)聯(lián),通道數(shù) N≥144
支持使用動(dòng)態(tài)鏈接庫(DLL)開發(fā)定制軟件
三.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)范
掃描速度 | nm/s | 1-200 |
IL 測(cè)量范圍 | dB | 70 |
IL 測(cè)量時(shí)間 | sec | 3(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s) |
PDL 測(cè)量時(shí)間 | sec | 12(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s) |
ILavg 測(cè)量時(shí)間 | sec | 6(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s) |
分辨率 | pm | 0.1 |
IL 準(zhǔn)確度(典型值) | dB | ±0.02(IL 在 0-40 dB) |
±0.05(IL 在 40-50 dB) | ||
±0.5(IL 在 50-65 dB) | ||
±1.0(IL 在 65-70 dB) | ||
IL 重復(fù)性(典型值) | dB | ±0.02 |
IL 分辨率 | dB | 0.001 |
PDL 精度(典型值) | dB | ±(0.02 + 3% of PDL) |
PDL 重復(fù)性(典型值) | dB | ±0.01 |
PDL 動(dòng)態(tài)范圍(典型值) | dB | 25 |
PDL 分辨率 | dB | 0.001 |
通信 | - | 網(wǎng)口 |
環(huán)境適應(yīng)性:以上所有指標(biāo)均在(23±5)℃,60%RH 以下環(huán)境下,使用高精度測(cè)試完成。
四.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)典型應(yīng)用
IL 測(cè)量接線示意圖 普通測(cè)試:光源輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測(cè)試:光源輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道,分束模 塊輸出接口接待測(cè)件輸入。
PDL/ILavg 測(cè)量接線示意圖 普通測(cè)試:偏振發(fā)生器輸出不經(jīng)過分束模塊。
高精度測(cè)試:偏振發(fā)生器輸出經(jīng)過分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道, 分束模塊輸出接口接待測(cè)件輸入。
五.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)操作界面
六.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)訂貨信息
名稱 | 說明 |
可調(diào)諧光源 | CL波段 |
O波段 | |
高速光功率計(jì)平臺(tái) | 槽位數(shù) 5 個(gè) |
光功率計(jì)模塊 | -70dB-+5dB |
一個(gè)模擬輸出口(SMA) | |
偏振態(tài)發(fā)生器模塊 | CL 波段 |
O 波段 | |
分束模塊 | 光接口 FC/UPC |
光接口 FC/APC |